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CT100NEO离子污染度测试仪

CT100NEO离子污染度测试仪可快速对线路板残留离子污染程度做出准确判断,非常适合对线路板有清洗要求的工厂、军工航天和研究院所。


CT100NEO离子污染度测试仪贴合IPC-TM-650、MILP-28809、MIL-STD-2000A、DEF-STD 10/03、IPC-TR-583、IEC等标准的离子污染残留测试要求。


线路板上残留离子污染物在温度和湿度的作用下, 会产生电化学迁移,影响线路板的可靠性,进而影响电子产品的稳定性和使用寿命,离子污染测试为电子制造行业质量管控的一个重要环节,可直接检测并根据测试情况采取工艺改进等措施;
离子污染测试可检测出不明显的、肉眼不可视的离子污染残留。

 

CT100NEO离子污染度测试仪通过将被测线路板浸入IPA/去离子水混合的测试溶液,萃取其上的离子污染,通过传感器收集后显示为实时曲线和对应的专用离子污染专用单位(ug Eq Nacl/cm2 等同于微克氯化钠每平方厘米),对应相应标准即可判断离子浓度是否符合要求。

CT100NEO离子污染度/浓度测试仪技术参数:

测试精度:0.001 ug Eq Nacl/cm2

测量范围:0.01-20.00 ug Eq NaCl/cm2

测试溶液:50%或75% IPA&去离子水;

测试槽体尺寸:80x390x250mm;

电源:230V/110V可选;

重量:17Kg;

CT100NEO离子污染度测试仪特点:

测试通过电脑端的测试软件控制和实现;

操作人员仅需输入测试样品尺寸和将样品浸入测试槽内;

测试全自动进行,离子污染残留值实时显示于测试软件;

每次测试开始前内置过滤装置自动过滤测试溶液至洁净状态;

测试溶液回路由免维护循环泵驱动,结合电磁阀分别形成过滤和测试回路;

非常灵敏的传感器探头(0.0001uS/cm),内置温度补偿,哪怕小样品、低残留值也能准确测出。

 

CT100NEO离子污染度测试仪软件特点:

简单易用,中英文操作界面可选;;

专用数据库存储测试参数和数据;

自带数据分析功能,测试数据导出灵活。

 

 

更多详细资料敬请联系我们:400-688-5515 或发送邮件至:info@metronelec.asia