CT100NEO离子污染度测试仪
CT100NEO离子污染度测试仪可快速对线路板残留离子污染程度做出准确判断,非常适合对线路板有清洗要求的工厂、军工航天和研究院所。
CT100NEO离子污染度测试仪贴合IPC-TM-650、MILP-28809、MIL-STD-2000A、DEF-STD 10/03、IPC-TR-583、IEC等标准的离子污染残留测试要求。
线路板上残留离子污染物在温度和湿度的作用下, 会产生电化学迁移,影响线路板的可靠性,进而影响电子产品的稳定性和使用寿命,离子污染测试为电子制造行业质量管控的一个重要环节,可直接检测并根据测试情况采取工艺改进等措施;
离子污染测试可检测出不明显的、肉眼不可视的离子污染残留。
CT100NEO离子污染度测试仪通过将被测线路板浸入IPA/去离子水混合的测试溶液,萃取其上的离子污染,通过传感器收集后显示为实时曲线和对应的专用离子污染专用单位(ug Eq Nacl/cm2 等同于微克氯化钠每平方厘米),对应相应标准即可判断离子浓度是否符合要求。
CT100NEO离子污染度/浓度测试仪技术参数:
测试精度:0.001 ug Eq Nacl/cm2;
测量范围:0.01-20.00 ug Eq NaCl/cm2;
测试溶液:50%或75% IPA&去离子水;
测试槽体尺寸:80x390x250mm;
电源:230V/110V可选;
重量:17Kg;
CT100NEO离子污染度测试仪特点:
测试通过电脑端的测试软件控制和实现;
操作人员仅需输入测试样品尺寸和将样品浸入测试槽内;
测试全自动进行,离子污染残留值实时显示于测试软件;
每次测试开始前内置过滤装置自动过滤测试溶液至洁净状态;
测试溶液回路由免维护循环泵驱动,结合电磁阀分别形成过滤和测试回路;
非常灵敏的传感器探头(0.0001uS/cm),内置温度补偿,哪怕小样品、低残留值也能准确测出。
CT100NEO离子污染度测试仪软件特点:
简单易用,中英文操作界面可选;;
专用数据库存储测试参数和数据;
自带数据分析功能,测试数据导出灵活。
更多详细资料敬请联系我们:400-688-5515 或发送邮件至:info@metronelec.asia